国际二次离子质谱学会登记会址为美国宾夕法尼亚州大学公园，其名称中的SIMS即二次离子质谱法（Secondary Ion Mass Spectrometry），从名称可知该会为二次离子质谱专业人员的学术团体。现有资料未载明其成立年份、宗旨、活动与内部结构。
官网：https://example.org/
地址 / 邮箱 / 电话等完整联系方式
暂无出版物数据
暂无会议数据
暂无关系数据
本会名称中的SIMS指二次离子质谱法（Secondary Ion Mass Spectrometry）。
国际二次离子质谱学会 · 一次付费，永久查看